Ein Rasterelektronenmikroskop (REM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt (gerastert) wird und zur Erzeugung eines Bildes Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt genutzt werden. Die mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind plastische Abbildungen der Objektoberfläche und weisen eine äußerst hohe Schärfentiefe auf.
Wir setzen das Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Analyse / Mikroanalyse unter anderem ein bei:
- Schadensanalysen, Bruchanalysen, Verschleißanalysen
- Korrosionsschäden
- Schäden durch Einwirkung von Chemikalien und anderen Medien auf Metalle, Kunststoffe und Elastomere
- Materialbestimmungen, Analyse von Oberflächen
- Partikelanalysen
- Überprüfung der Fertigungsqualität
Schadensanalysen, Bruchanalysen, Verschleißanalysen
Mittels EDX Analyse mit REM können Verschleißspuren in einem Kugellager plastisch dargestellt werden.
Dies ist ein wichtiges Kriterium für die Schadensbeurteilung.
Schäden durch Korrosion
Eine Korrosion findet dann statt, wenn ein metallischer Werkstoff mit seiner Umgebung reagiert und durch diese Reaktion eine messbare Veränderung des Werkstoffes bewirkt und zu einer Beeinträchtigung der Funktion eines metallischen Bauteils oder eines ganzen Systems führen kann.
Schäden durch Einwirkung von Chemikalien und anderen Medien auf Metalle, Kunststoffe und Elastomere
Bauteile sind während ihres Einsatzes verschiedenen Chemikalien (Fette, Schmierstoffe, Kühlmittel, Lösungsmittel, Reinigungsmittel) ausgesetzt.
Diese können auf Werkstoffen Spannungsrisse auslösen.
Materialbestimmungen, Analyse von Oberflächen
Bereits winzige Oberflächenfehler wie Blasen oder Krater können beim Lackieren und Beschichten von Bauteilen den optischen Eindruck beeinträchtigen. Während Lack-Krater zum Beispiel durch Spurenkontaminationen mit Fetten, Ölen oder Trennmitteln verursacht werden, entstehen Stippen, Pickel oder andere punktuelle Erhebungen in der Lackoberfläche häufig durch den Einschluss von Fremdteilchen (Staubpartikel, Haare, Fasern, Metallabrieb).
Partikelanalysen
Kleinste Partikel können schuld sein am frühzeitigen Versagen eines Bauteils. Das IR-Mikroskop liefert uns bei Partikeln bis zu 15 µm brauchbare Ergebnisse. Trotzdem ist der Einsatz eines Rasterelektronenmikroskops und der EDX Analyse bei anorganischen Stoffen unabdingbar.
Die EDX Analyse weist kleinste Elemente nach, die in einer Probe enthalten sind. Hierzu werden Elektronenmikroskope herangezogen, da sie eine deutlich höhere Tiefenschärfe als die Lichtmikroskope ermöglichen. So können wir zum Beispiel nachweisen, ob das Partikel eine Verunreinigung (Fremdpartikel) oder ein zu groß geratener Füllstoffpartikel ist.
Überprüfung der Fertigungsqualität
Einsatzmöglichkeiten der EDX Analyse mit REM finden sich auch in der Überprüfung der Fertigungsqualität, beispielsweise im Bereich der Erstmuster- und Serienprüfungen von Bauteilen oder Baugruppen.
FAQ
Kleine Stücke bis ca. 50 × 50 × 20 mm, sauber und trocken. Nichtleitende Proben (Kunststoff, Keramik) können besputtert werden – bitte angeben, ob die Probe danach wiederverwendbar sein muss. Bruchflächen nicht reinigen!
Eine EDX-Einzelanalyse mit REM-Bildern ist oft in 3-5 Arbeitstagen verfügbar. Umfangreiche Mappings / Linescans 1-2 Wochen.
Dekra Automobil GmbH, Unidekstraße 5, 75015 Bretten,
mit Probebegleitschein (Download-Bereich). Bitte vermutete Elemente / Fragestellung angeben.
Typisch 0,1-1 Masse-% je nach Element und Matrix; leichte Elemente (B, C, N, O) mit höherer Unsicherheit. Für niedrigere Nachweisgrenzen empfehlen wir ICP-OES oder OES.
Ja, die Kombination aus REM-Bild und EDX-Spektrum ist ein etabliertes Beweismittel in Reklamations- und Gerichtsverfahren.